Dum fabrikado de plata panelo (FPD), testoj por kontroli la funkciecon de la paneloj kaj testoj por taksi la fabrikan procezon estas faritaj.
Testado dum la tabela procezo
Por testi la panelan funkcion en la tabelo -procezo, la tabelo -testo estas farita per tabelo -testilo, tabelo -sondilo kaj sonda unuo. Ĉi tiu provo estas desegnita por testi la funkciecon de TFT -array -cirkvitoj formitaj por paneloj sur vitraj substratoj kaj por detekti iujn rompitajn dratojn aŭ pantalonojn.
Samtempe, por testi la procezon en la tabelo -procezo por kontroli la sukceson de la procezo kaj retrosciigo de la antaŭa procezo, DC -parametro -testilo, TEG -sondilo kaj sonda unuo estas uzataj por TEG -testo. ("TEG" staras por test -elementa grupo, inkluzive de TFT -oj, kapacitaj elementoj, drataj elementoj kaj aliaj elementoj de la tabela cirkvito.)
Testado en Unueco/Modula Procezo
Por testi la panelan funkcion en ĉela procezo kaj modula procezo, lumaj provoj estis efektivigitaj.
La panelo estas aktivigita kaj lumigita por montri testan padronon por kontroli panelan operacion, punktajn difektojn, liniajn difektojn, kromaticecon, kromatan aberacion (neuniformecon), kontraston, ktp.
Ekzistas du inspektaj metodoj: operacia vida panela inspektado kaj aŭtomata panela inspektado uzante CCD -fotilon, kiu aŭtomate plenumas difektan detekton kaj pasan/malsukcesan testadon.
Ĉelaj testiloj, ĉelaj sondoj kaj sondaj unuoj estas uzataj por inspektado.
La modulo-testo ankaŭ uzas Mura-detektan kaj kompensan sistemon, kiu aŭtomate detektas Mura aŭ malegalecon en la ekrano kaj forigas MURA kun malpeza kontrolita kompenso.
Afiŝotempo: Jan-18-2022